產(chǎn)品名稱:美國SCS EM EYE靜電事件探測儀
產(chǎn)品型號(hào):
更新時(shí)間:2024-08-18
產(chǎn)品簡介:
CTM048美國SCS EM EYE靜電事件探測儀多種功能,可以測試ESD(靜電放電)事件,EMF(電磁場),RF(射頻)信號(hào)
專業(yè)儀器設(shè)備與測試方案供應(yīng)商——上海堅(jiān)融實(shí)業(yè)有限公司JETYOO INDUSTRIAL & 堅(jiān)友(上海)測量儀器有限公司JETYOO INSTRUMENTS,為原安捷倫Agilent【現(xiàn)是德KEYSIGHT】品牌技術(shù)經(jīng)理-堅(jiān)JET與吉時(shí)利KEITHLEY【現(xiàn)泰克Tektronix】品牌產(chǎn)品經(jīng)理-融YOO于2011年共同創(chuàng)辦,專注工業(yè)測試領(lǐng)域十六年,志在破舊立新!*進(jìn)口儀器設(shè)備大多數(shù)廠家僅在國內(nèi)設(shè)銷售點(diǎn),但技術(shù)支持薄弱甚至沒有,而代理經(jīng)銷商也只做商務(wù),不做售前技術(shù)支持/測試方案和售后使用培訓(xùn)/維修校準(zhǔn)的空白。我們的技術(shù)型銷售均為本科以上學(xué)歷,且均有10年以上測試行業(yè)經(jīng)驗(yàn),以我們*進(jìn)*的經(jīng)營理念,與客戶互惠互利合作雙贏,重在協(xié)助用戶采購與技術(shù)工程師的工作,提供較有競爭力的供應(yīng)鏈管理與售前售后技術(shù)支持。堅(jiān)融實(shí)業(yè)——一家致力于為祖國用戶提供美國SCS EM EYE靜電事件探測儀儀器設(shè)備、測試方案、技術(shù)培訓(xùn)、維修計(jì)量全面服務(wù)的儀器設(shè)備綜合服務(wù)商。
美國SCS EM EYE靜電事件探測儀EM EYE METER產(chǎn)品描述
是一款靜電事件探測儀,可以測試靜電放電的次數(shù)和放電電壓。儀器具有分辨信號(hào)的能力,區(qū)分 EMI 和 ESD 信號(hào),剔除非 ESD 相關(guān)事件。用戶可以選擇測試 CDM、HBM、MM 放電模型,儀器根據(jù)
放電模型、探測距離和信號(hào)強(qiáng)度計(jì)算出大致的放電電壓。
1 主機(jī)身
2 SD 內(nèi)存卡(已插入主機(jī)身)
3 CTC021 探測模塊(含 CTS001 天線)
4 CTC113-6FT 遠(yuǎn)端全向天線,1.8 米長纜線
5 電源適配器
6 CTC115-6FT 遠(yuǎn)端全向天線,抗高溫,1.8 米長纜線
標(biāo)配:1 +2 +3 +4 +5
選配:6
測試靜電放電(ESD)事件
4.1. 設(shè)置探測距離和放電模型
儀器采用專li的算法,根據(jù)探測距離、獲得信號(hào)強(qiáng)度和放電模型計(jì)算出大致的放電電壓。用戶需要設(shè)置探測距離和放電模型。
探測距離:
天線距離被測試物/測試點(diǎn)的距離,設(shè)置范圍 0.5~15.0 英寸(1.3~38.1cm)
注意:實(shí)際測試時(shí),天線距離被測試物/測試點(diǎn)應(yīng)該為所設(shè)置的距離。
放電模型:
CDM:器件本身帶有靜電,當(dāng)接觸到接地導(dǎo)體或其他電位導(dǎo)體時(shí)發(fā)生靜電放電
MM:帶靜電的設(shè)備或工具接觸到接地的器件,發(fā)生靜電放電
HBM:帶靜電的人體接觸到接地的器件,發(fā)生靜電放電
Raw Input:天線所獲得的實(shí)際信號(hào)強(qiáng)度(電平信號(hào)),該讀數(shù)用于儀器校準(zhǔn)
點(diǎn)擊屏幕的距離或放電模型方框,進(jìn)入設(shè)置界面,屏幕顯示如下:
點(diǎn)擊圓盤▲/▼設(shè)置探測距離,選擇范圍 0.5~15.0 英寸(1.3cm~38.1cm),0.5 英寸以下,每點(diǎn)擊 1 次遞增 0.5 英寸;10 英寸以上,每點(diǎn)擊 1 次遞增 1 英寸。
點(diǎn)擊圓盤?/?設(shè)置放電模型,可以選擇 CDM、MM、HBM、Raw Input
設(shè)置完成后,點(diǎn)擊圓盤中間的8 返回待機(jī)界面
4.2. 報(bào)警閾值設(shè)置
點(diǎn)擊弧形圓點(diǎn),進(jìn)入設(shè)置界面。(備注:儀器內(nèi)存只記錄超過閾值的靜電放電事件)
點(diǎn)擊圓盤?/?設(shè)置報(bào)警閾值,范圍 000~990V:
0~10V 按 1V 增幅設(shè)置
10~990V 按 10V 增幅設(shè)置
如果選擇了“Raw Input"測試模式,可以選擇 1~1500mV
設(shè)置完成后,點(diǎn)擊圓盤中間的8 返回待機(jī)界面
按以上設(shè)置完成后,即可開始測試。測試時(shí)屏幕出現(xiàn)閃電符號(hào),表示開啟了信號(hào)屏蔽功能,儀器剔除了非ESD 放電信號(hào),只顯示靜電放電事件。點(diǎn)擊該符號(hào)切換到全信號(hào)模式,這時(shí)出現(xiàn)三角形符號(hào),表示儀器顯
示所有探測到的信號(hào),包括 EMI 背景噪音和 ESD 放電信號(hào)。
測試時(shí),屏幕顯示的電壓值為估算的放電電壓,數(shù)字為超過閾值的放電次數(shù)。最高可以記錄 32767 次放電次數(shù)。點(diǎn)擊 Power/C 鍵可以清零放電次數(shù),重新累計(jì)。
4.3. 按照 ANSI/ESD SP17.1 規(guī)范進(jìn)行靜電放電事件風(fēng)險(xiǎn)評(píng)估流程
備注:
首先確定靜電敏感器件是否有導(dǎo)體部位接觸或非常接近導(dǎo)電的物體,例如金屬-金屬接觸,如果沒有,通常不會(huì)有靜電放電風(fēng)險(xiǎn),無需進(jìn)一步進(jìn)行風(fēng)險(xiǎn)評(píng)估。
空載測試:在制程中不要放入靜電敏感器件,記錄下測到的靜電放電現(xiàn)象
放入靜電敏感器件后,如果沒有探測到更多的放電現(xiàn)象,表示探測到的是干擾信號(hào)/背景噪音,而非放入靜電敏感器件后造成的靜電放電,評(píng)估結(jié)束-低風(fēng)險(xiǎn)
如果探測到更多的放電現(xiàn)象,根據(jù)測到的放電電壓值和器件的靜電敏感閥值來評(píng)估風(fēng)險(xiǎn),如果放電電壓值超過器件所列明的閥值,采取措施消除危險(xiǎn),例如采取接地、離子中和等方式采取消除風(fēng)險(xiǎn)的措施后,再次進(jìn)行評(píng)估
1 是否和靜電敏感器件直接
接觸或距離非常近
評(píng)估結(jié)束-低風(fēng)險(xiǎn)
2 進(jìn)行空載測試
3 把靜電敏感器件放入后測試,對(duì)比測試結(jié)果
4 是否測到更多的靜電放電事件?
5 評(píng)估結(jié)束-低風(fēng)險(xiǎn)
否
否
6 評(píng)估風(fēng)險(xiǎn)程度
消除風(fēng)險(xiǎn)
按 2~5 步驟再次評(píng)估
儀器校準(zhǔn)
測試靜電放電電壓,測試方法是獲取放電信號(hào)的強(qiáng)度然后采用專有算法計(jì)算出放電電壓值。
原廠校準(zhǔn)書僅顯示儀器能否正確接收到放電信號(hào),校準(zhǔn)方法是采用脈沖電源輸出 100mV、150mV、1.0V、1.5V 信號(hào),然后驗(yàn)證儀器接收到的信號(hào)強(qiáng)度(dBμV)是否準(zhǔn)確。
疑問一:如何在第三方進(jìn)行校準(zhǔn)?
答:不能在第三方機(jī)構(gòu)進(jìn)行校準(zhǔn),因?yàn)樵瓘S對(duì)儀器的天線數(shù)據(jù)(電容、阻抗)等均無公開。第三方無法對(duì)儀器能否接收正確放電信號(hào)進(jìn)行驗(yàn)證。即使第三方可以驗(yàn)證儀器是否準(zhǔn)確獲取放電信號(hào),后續(xù)也無法根據(jù)
信號(hào)強(qiáng)度計(jì)算出放電電壓值,該算法為原廠專有算法,無公開。
所以儀器必需返回原廠進(jìn)行校準(zhǔn),亞洲用戶可以返回 DESCO 日本公司進(jìn)行校準(zhǔn)。
疑問二:該儀器測試放電電壓,但為什么沒有測試精度參數(shù)?
答:靜電放電電壓和實(shí)際物體的電容有關(guān),儀器無法事先知道被測物體的電容,只能采取一個(gè)經(jīng)驗(yàn)值(根據(jù)實(shí)驗(yàn)取一個(gè)能兼顧大多數(shù)器件的經(jīng)驗(yàn)值)來計(jì)算放電電壓。所以儀器的讀數(shù)是接近實(shí)際放電電壓值,而
沒有一個(gè)定量的測試精度。
疑問三:如何直觀地驗(yàn)證儀器的測試準(zhǔn)確度?
答:下圖顯示了靜電模擬器的放電過程,儀器實(shí)測讀數(shù)接近放電電壓。用戶可以用靜電放電槍做這類驗(yàn)證。